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概述

計量產品

測量不可見的，以提供深層次的過程洞察力

Nova提供一套綜合的材料和尺寸計量，結合先進的建模技術，使半導體製造商能夠在整個製造過程中獲得更深入的了解，提高產量，並縮短上市時間。

我們的產品組合

空間計量

集成和獨立的光學平台用於臨界尺寸(CD)和薄膜測量
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材料計量

內聯XPS和XRF平台的成分和薄膜厚度測量

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軟件解決方案

物理和機器學習算法授權的高級建模解決方案

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我們的技万博mantex体育入口術

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