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• 複雜結構的新型光譜幹涉測量技術- Daniel Schemidt, IBM
• 在大批量生產中使用無監督機器學習在線XPS計量- GLOBALFOUNDRIES
• 摻矽銦镓鋅氧化物(IGZO)薄膜性能測量- Poster, imec和Nova